x荧光光谱仪 xtd测厚仪仪器简介：
xtd是一款于检测各种异形件，特别适用于五金类模具、卫浴产品、线路板以及高精密电子元器件表面处理的成分和厚度分析。
该系列仪器不但可以应对平面、微小样品的检测，在面对凹槽曲面深度0-90mm以内的异形件具备巨大的优势。
被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。
技术参数：
1.元素分析范围：氯（cl）- 铀（u）
2.涂镀层分析范围：氯（cl）/锂（li）- 铀（u）
3.厚度*低检出限：0.005μm
4.成分*低检出限：1ppm
5.*小测量直径0.05mm（*小测量面积0.002mm?）
6.对焦距离：0-90mm
7.样品腔尺寸：530mm*570mm*150mm
8.仪器尺寸：760mm*550mm*635mm
9.仪器重量：100kg
多元迭代efp核心算法（号：2017sr567637）
*的研发团队在alpha和fp法的基础上，计算样品中每个元素的一次荧光、二次荧光、靶材荧光、吸收增强效应、散射背景等多元优化迭代开发出efp核心算法，结合*的光路转换技术、变焦结构设计及稳定的多道脉冲分析采集系统，只需要少量的标样来校正仪器因子，可测试重复镀层、非金属、轻金属、多层多元素以及有机物层的厚度及成分含量。
单涂镀层应用：如ni/fe、ag/cu等
多涂镀层应用：如au/ni/fe、ag/pb/zn等
合金镀层应用：如znni/fe、znal/ni/cu等
合金成分应用：如nip/fe，通过efp算法，在计算镍磷镀层厚度的同时，还可*分析出镍磷含量比例。
重复镀层应用：不同层有相同元素，也可*测量和分析。
如钕铁硼磁铁上的ni/cu/ni/fendb，*层ni和第三层ni的厚度均可测量。
选择一六仪器的四大理由：
1.一机多用，无损检测
2.*小测量面积0.002mm?
3.可检测凹槽0-90mm的异形件
4.轻元素，重复镀层，同种元素不同层亦可检测
配置清单：