1、打开x荧光镀层测厚仪,打开电脑。
2、准备各种标准片及样品。
3、开机后输入操作者应用密码,并预热60min。
4、点击“计数”,再点击“重复”,输入次数“30~50”,设置重复测次数为“30~50”,将标准校准样品“ag”部分放入准直器镜头下,点击“聚集激光”进行聚焦,然后点击绿色测试按钮“go”进行测试。
5、x荧光测厚仪波谱校准:点击“波谱校准”,将校准样品“ag-cu”部分放入准直器镜头下,点击“聚集激光”进行聚焦,然后点击绿色测试按钮“go”进行测试;将标准样品“ag”部分放入准直器镜头下,点击“聚集激光”进行聚焦,然后点击绿色测试按钮“go”进行测试;波谱校准成功后,点击确定,校准过程完毕。
6、x荧光测厚仪样品测量:
①打开应用测试档案,点击样本测量,然后点击应用,再点击config,选择要测量的应用档案,然后点击“打开”。②将待测试的样品放入准直器镜头下,点击“聚集激光”进行聚焦,然后点击绿色测试按钮“go”进行测试。
7、x荧光测厚仪数据打印。点击打印,输入待打印的样品名称、型号、供应商等信息,点击“继续”进行结果打印。
8、测量完成后依次关闭软件和设备,拔掉电源。