随着元器件上的越来越多， 测试人员需要进行精准、快速的多端口网络分析。优化矢量（vna）的配置是限度降低制造阶段测试成本的关键。本应用指南概括介绍了多端口和多站点测试的功能，对不同的多端口测试解决方案进行了比较， 最后讨论了在配置多点测试站时都需要考虑哪些问题。
降低测试成本是大批量元器件生产中面临的主要挑战。随着元器件上的端口越来越多， 测试人员需要精准、快速的多端口网络分析。限度地减少操作人员干预、减少连接和校准次数都会对测量吞吐量产生很大影响，而限度地降低测试成本的关键是优化矢量（vna）的配置。
应用现代化仪器（如具有先进功能的 pxi vna）可以提高大批量生产测试的测量吞吐量。 keysight pxi 矢量网络分析仪 引入了许多新功能，在提高吞吐量的同时提供了比传统台式解决方案更灵活的测试配置。对于多端口应用，pxi 矢量网络分析仪提供了真正的多端口功能，使测试工程师可以在一个 pxi 机箱内配置多达 32 端口的 vna。此外，它的外形可以重新配置，与许多常规 vna 仪器相比，进行多站点或并行测试时占用的空间更小。
本应用指南概括介绍了和多站点测试功能。测试解决方案有哪些不同类型， 它们有何优缺点？配置多点测试站时需要考虑什么问题，哪些因素可能会影响整体的测试吞吐量？本应用指南对 pxi 矢量网络分析仪 以及优化测试站的技术进行了详细说明。
日益增加的多端口测试需求在网络分析的早期，所有的测量重点都集中在 2 端口 s 参数上。随着用户越来越多地需要测试功分器、混频器、差分器件等器件，(vna)的功能不断扩展，最终演进到 4 端口vna。现在，任何需要四个以上端口进行网络分析的器件都被视为多端口器件。
当今许多元器件都在单个元件上集成了多种功能。这些元器件的端口数量不断增加，复杂性也随之增加。例如支持智能手机多频段工作的射频前端模块（fem），多路输入 / 多路输出（mimo）天线，以及高速数字应用中的无源互连产品，如射频连接器或电缆 组件（图 1）